Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 103, février 2003
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Page(s) | 305 - 319 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:200300012 |
J. Phys. IV France 103 (2003) 305
DOI: 10.1051/jp4:200300012
Analyse des contraintes résiduelles et de la texture dans les matériaux : applications industrielles
P.J. WebsterInstitut d'Ingénieurerie des Matériaux, École en Aéronautique, Génie Civil et Mécanique, Université de Salford, Manchester, U.K.
Résumé
Les contraintes résiduelles s'introduisent lors de l'ingénierie des composants au cours de leur fabrication et
également au cours de leur utilisation. Elles sont importantes parce qu'elles peuvent avoir des magnitudes
proches de la limite apparente d'élasticité et peuvent par conséquent affecter considérablement la performance et
la durée de vie des composants. Les ingénieurs concepteurs doivent être en mesure de calculer et de mesurer les
champs de contraintes résiduelles afin de s'assurer de l'intégrité des composants. Cet article décrit les techniques
expérimentales utilisées pour déterminer des champs de contraintes résiduelles en faisant référence plus
précisément à la diffraction des neutrons et à la diffraction des rayons X obtenus par synchrotrons. On y discute
de la théorie et de l'applicabilité de ces techniques. Cet article comprend un certain nombre de cas étudiés à titre
d'exemple. Il renvoie aussi à l'évolution des étalons internationaux de mesure de contraintes résiduelles et aux
développements à venir.
© EDP Sciences 2003