Analyse des éléments traces dans les matrices légères par fluorescence X : applications et perspectives

Abstract
Continuous improvements of the sensitivity of wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometers (WDXRF), allow today and depending on the analytical requirements, new analytical strategies : reduction of the analysis time or reduction of the tube power in order to become independant of external constraints (notably cooling water). Some examples are shown in the case of heavy elements analysis in light matrices.

Résumé
Les progrès continus dans l'amélioration de la sensibilité des spectromètres d'analyse par fluorescence de rayons X dispersifs en longueur d'onde (WDX), permettent aujourd'hui et en fonction des besoins analytiques, des stratégies d'analyses nouvelles : réduction du temps d'analyse ou réduction de la puissance du tube pour se rendre indépendant de contraintes externes (notamment l'eau de refroidissement). Quelques exemples sont donnés quant à l'analyse de métaux lourds dans des matrices légères.