J. Phys. IV France 12 (2002) Pr5-257
DOI: 10.1051/jp4:20020151

Étude du bruit quantique dans les microlasers à semi-conducteurs à cavité verticale (VCSELs)

I. Maurin¹, J.-P. Hermier¹, A. Bramati¹, S. Ducci¹, E. Giacobino¹, M. Kolobov² and A. Zelaquett Khoury<sup>3

1</sup>  Laboratoire Kastler Brossel, UPMC, 4 place Jussieu, 75252 Paris cedex 05, France
²  Laboratoire de Physique des Lasers, Atomes et Molécules, Université des Sciences et Technologies de Lille, bâtiment P5, 59655 Villeneuve-d Ascq cedex, France
³  Instituto de Fisica, Universidade Federal Fluminense, Niteroi-R-J-24210-340, Brazil

Résumé
Nous étudions le bruit quantique dans les microlasers semi-conducteurs à cavité verticale. Ils émettent des faisceaux avec plusieurs modes transverses de polarisations variées. Lorsqu'un seul mode transverse, polarisé linéairement oscille, nous démontrons théoriquement et expérimentalement l'importance de l'émission dans la direction de polarisation orthogonale pour la caractérisation du bruit d'intensité. En régime multimode transverse, les anticorrélations sont importantes entre modes transverses, certains échantillons produisent des faisceaux au bruit d'intensité comprimé. Pour les échantillons présentant un excès de bruit, l'injection optique permet d'obtenir un bruit comprimé. Nous étudions également la structure spatiale du bruit d'intensité dans le plan transverse.

© EDP Sciences 2002