5^e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et X
Applications et développements récents

J. Phys. IV France 11 (2001) Pr7-9-Pr7-13
DOI: 10.1051/jp4:2001704

Étude et modélisation du front d'onde des nouvelles sources XUV

S. Le Pape¹, Ph. Zeitoun¹, J.-F. Hergott², B. Carré², P. Dhez¹, M. François³, M. Idir¹, H. Merdji², D. Ros¹, A. Carillon¹ and P. Salières<sup>2

1</sup>  Laboratoire de Spectroscopie Atomique et Ionique, bâtiment 350, Université Paris Sud, 91405 Orsay, France
²  CEA SPAM/DSM, Centre d'Étude de Saclay, 91191 Gif-sur-Yvette, France
³  Institut d'Électronique et de Microélectronique du Nord, Université des Sciences et Technologie de Lille, avenue Poincaré, BP. 69, 59652 Villeneuve-d'Ascq, France

Résumé
Un nouveau champ d'expériences dans le domaine XUV serait ouvert si une intensité de typiquement 10¹³ W/cm² était atteinte. Pour atteindre cette intensité, il faut focaliser le rayonnement XUV sur des taches focales de dimension micronique, ce qui nécessite une source dont le front d'onde est très régulier. Nous nous sommes donc intéressé aux problèmes liés à la focalisation des sources nouvelles sources XUV (laser X et harmoniques d'ordre élevé) et en particulier à leur front d'onde. Nous avons développé le premier senseur de front d'onde de type « Shack-Hartmann » fonctionnant dans l'XUV. Nous montrons ici les premiers résultats obtenus avec ce senseur de front d'onde ainsi que les simulations développées en parallèle.

© EDP Sciences 2001