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Numéro
J. Phys. IV France
Volume 09, Numéro PR5, May 1999
4e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et X
Applications et développements récents
Page(s) Pr5-143 - Pr5-144
DOI https://doi.org/10.1051/jp4:1999543
4e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et X
Applications et développements récents

J. Phys. IV France 09 (1999) Pr5-143-Pr5-144

DOI: 10.1051/jp4:1999543

Dépôt par ablation laser de guides d'onde d'alumine pure et dopée en europium. Propriétés structurales et optiques

A. Pillonnet1, C. Garapon1, C. Champeaux2, C. Bovier3, R. Brenier3, L. Lou,1, A. Catherinot2, B. Jacquier1 and J. Mugnier1

1  Laboratoire de Physico-Chimie des Matériaux Luminescents, UMR 5620 du CNRS, Université Claude Bernard Lyon 1, 43 boulevard du 11 novembre 1918, 69622 Villeurbanne cedex, France
2  Laboratoire de Matériaux Céramiques et Traitements de Surface, URA 320 du CNRS, Université de Limoges, 123 avenue Albert Thomas, 87060 Limoges cedex, France
3  Département de Physique des Matériaux, UMR 5596 du CNRS, Université Claude Bernard Lyon 1, 43 boulevard du 11 novembre 1918, 69622 Villeurbanne cedex, France


Résumé
Des guides d'ondes d'Al2O3 pure et dopée en europium ont été élaborés par ablation laser. Leurs caractéristiques structurales, leurs aptitudes au guidage optique, et leurs propriétés de fluorescence ont été étudiées en relation avec la pression d'oxygène au cours du dépôt. Les films sont stoechiométriques, amorphes avec l'amorce d'une cristallisation (structure γ) et présentent des indices de réfraction élevés, la pression d'oxygène influant à la fois sur l'indice du film, la vitesse de croissance et la valence de l'ion dopant.



© EDP Sciences 1999