| Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 04, Numéro C7, Juillet 1994
8th International Topical Meeting on Photoacoustic and Photothermal Phenomena8 ITMP3 / 8éme conférence internationale de photoacoustique et photothermique |
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| Page(s) | C7-295 - C7-297 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1994770 | |
8th International Topical Meeting on Photoacoustic and Photothermal Phenomena
8 ITMP3 / 8éme conférence internationale de photoacoustique et photothermique
J. Phys. IV France 04 (1994) C7-295-C7-297
DOI: 10.1051/jp4:1994770
Laboratoire d'Optique de l'ESPCI, Centre National de la Recherche Scientifique et Université Pierre et Marie Curie, 10 rue Vauquelin, 75005 Paris, France
© EDP Sciences 1994
8 ITMP3 / 8éme conférence internationale de photoacoustique et photothermique
J. Phys. IV France 04 (1994) C7-295-C7-297
DOI: 10.1051/jp4:1994770
Local measurements of thermal diffusivity in homogeneous and heterogeneous samples by photoreflectance microscopy
L. Pottier and K. PlamannLaboratoire d'Optique de l'ESPCI, Centre National de la Recherche Scientifique et Université Pierre et Marie Curie, 10 rue Vauquelin, 75005 Paris, France
Abstract
We present a variant of the traditional photoreflectance microscopy. It allows thermal diffusivity measurements on samples as small as a few tens of microns, possibly of mediocre surface quality.
© EDP Sciences 1994