Etude de l'effet de prétraitements sur la topographie des surfaces orientées de platine par deux méthodes indépendantes : voltammétrie et STM

J. CLAVILIER; J.M. ORTS; J.M. FELIU

doi:doi:10.1051/jp4:1994122

Numéro		J. Phys. IV France Volume 04, Numéro C1, Janvier 1994 Récents Développements en Electrochimie Fondamentale et Appliquée


Page(s)		C1-303 - C1-308
DOI		https://doi.org/10.1051/jp4:1994122

Récents Développements en Electrochimie Fondamentale et Appliquée

J. Phys. IV France 04 (1994) C1-303-C1-308
DOI: 10.1051/jp4:1994122

Etude de l'effet de prétraitements sur la topographie des surfaces orientées de platine par deux méthodes indépendantes : voltammétrie et STM

J. CLAVILIER¹, J.M. ORTS² and J.M. FELIU²

¹ L.E.I. du C.N.R.S., 1 Pl. A. Briand, 92195 Meudon, France
² Departament de Química-Física, Universitat d'Alacant, Apartat 99, 03080 Alacant, Spain

Abstract
In this paper a correlation is made between the voltammetric profile and STM topography of Pt(100) surfaces prepared under different conditions. Surfaces with larger ordered domains are obtained when oxygen adsorption on the surface is avoided. The effect of strongly adsorbed species is also studied.