Modélisation et analyse des profils de raies de diffraction X par des solides nanocristallins

Résumé
L'analyse des profils de raies de diffraction des rayons X, combinée à la modélisation de l'ensemble du diagramme, est discutée au travers des méthodes de Voigt et de Fourier. La procédure est appliquée avec le logiciel ProfFOU à deux solides nanocristallins, un oxyde de cérium et un hydoxyde de nickel. Une interprétation optimale de leurs propriétés microstructurales est présentée et les résultats obtenus par les deux méthodes sont discutés. L'analyse de quinze réflexions du diagramme de CeO₂ montre que le solide est exempt de distorsions réticulaires et que les cristallites ont une forme moyenne sphérique. Pour Ni(OH)₂ une morphologie en disque est proposée et la présence de microdistorsions est mise en évidence.

Abstract
X-ray diffraction line broadening, combined to the pattern decomposition technique, is discussed through the Voigt and Fourier methods. The procedure is applied with the software ProfFOU to two nanocrystalline solids, cerium oxide and nickel hydroxide. An optimal interpretation of their microstructural properties is described and the results obtained from the two approaches are discussed. The study of fifteen reflections of the pattern of CeO₂ shows that the solid is strain-free and that the crystallites are spherical, on average. For Ni(OH)₂, crystallites are disc-shaped and they contain a significant amount of microdistortions.