EDP Sciences Journals List
Issue J. Phys. IV France
Volume 118, November 2004
Page(s) 149 - 155
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118018



J. Phys. IV France 118 (2004) 149-155

DOI: 10.1051/jp4:2004118018

Réflexion et fluorescence X : une complémentarité au profit de la caractérisation des surfaces

C. Zerrouki1, 2, M. Chassevent1, N. Fourati1, E. Tollens2 et J. J. Bonnet1

1  Laboratoire de Physique/Cnam, 2 rue Conté 75003 Paris
2  BNM-INM/Cnam, 292 rue Saint-Martin, 75141, Paris Cedex 03


Abstract
Dans cette étude nous avons utilisé deux techniques complémentaires, la réflexion diffuse des rayonnements X et la fluorescence X, pour caractériser la surface de trois échantillons d'Alacrite XSH (alliage quaternaire à base de cobalt, contenant du chrome, du nickel et du tungstène). En plus de la rugosité superficielle, ces mesures donnent des informations sur la composition en surface (sur quelques dizaines de nanomètres) selon la profondeur de pénétration des rayons X. La valeur de "l'angle critique" est déterminée puis exploitée pour identifier la nature des composés présents à la surface de l'un de ces échantillons. Ces mesures sont ensuite complétées par des clichés pris au microscope électronique à balayage.



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