Diagnostics d'imagerie X par microscopes X à miroirs développés dans le cadre du programme LIL

R. Rosch; J.-Y. Boutin; J.P. Le Breton; G. Lidove; N. Douvry

doi:doi:10.1051/jp4:20030629

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Numéro		J. Phys. IV France Volume 108, juin 2003


Page(s)		207 - 210
DOI		https://doi.org/10.1051/jp4:20030629

J. Phys. IV France 108 (2003) 207
DOI: 10.1051/jp4:20030629

Diagnostics d'imagerie X par microscopes X à miroirs développés dans le cadre du programme LIL

R. Rosch, J.-Y. Boutin, J.P. Le Breton, G. Lidove and N. Douvry

CEA, BP. 12, 91680 Bruyères-le-Châtel, France

Résumé
Cet article présente les premiers diagnostics d'imagerie X à base de microscopes à miroirs mis en oeuvre sur la chambre d'expériences de la Ligne d'intégration Laser (LIL) implantée au CEA-CESTA. Ces diagnostics comprennent trois éléments de base : un bloc optique, qui assure les fonctions d'imagerie et de sélectivité spectrale (dans les domaines [100 eV - 1 keV] et [1-5 kev]), un détecteur rapide (caméra à balayage de fente ou tube obturateur) et un système d'insertion. Ils permettent d'observer des détails inférieurs à 10 $\mu$ m sur un champ de 1 mm (ou 30 $\mu$ m SUT 3 mm) au niveau du plasma source. La qualification des microscopes sur un banc X spécifique du CEA-DIF est également décrite.