Journal de Physique IV

Hot-carrier degradation of CMOS inverters and ring oscillators at 77K

J.-T. Hsu, X. Li, P. Aum, D. Chan et C.R. Viswanathan

J. Phys. IV France, 04 C6 (1994) C6-37-C6-41

DOI: 10.1051/jp4:1994606

J.-T. Hsu

X. Li

P. Aum

D. Chan

C.R. Viswanathan

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