Journal de Physique IV

Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique

A. Zimmer, N. Stein, C. Boulanger et L. Johann

J. Phys. IV France, 122 (2004) 87-92

DOI: 10.1051/jp4:2004122013

A. Zimmer

N. Stein

C. Boulanger

L. Johann

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