Journal de Physique IV

Diffusion des rayonnements X et visibles ; microscopie en champ proche : utilisation comparée pour la caractérisation des surfaces

E. Tollens, S. Menecier, Y. Haidar, C. Zerrouki, M. Chassevent, F. de Fornel and J.J. Bonnet

J. Phys. IV France, 118 (2004) 395-405

DOI: 10.1051/jp4:2004118046

E. Tollens

S. Menecier

Y. Haidar

C. Zerrouki

M. Chassevent

F. de Fornel

J.J. Bonnet

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