Journal de Physique IV

Analysis of the stability of native oxide films at liquid lead/metal interfaces

C. Lesueur, D. Chatain, C. Bergman, P. Gas et F. Baque

J. Phys. IV France, 12 8 (2002) 155-162

DOI: 10.1051/jp4:20020330

C. Lesueur

D. Chatain

C. Bergman

P. Gas

F. Baque

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