Journal de Physique IV

Utilisation de l'analyse SFX pour le dosage du silicium organique et du silicium inorganique dans des échantillons biologiques ou environnementaux

F. Clanet, G. Malingre, D. Rocher et M. Rousseau

J. Phys. IV France, 08 PR5 (1998) Pr5-369-Pr5-377

DOI: 10.1051/jp4:1998546

F. Clanet

G. Malingre

D. Rocher

M. Rousseau

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