Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique A. Zimmer, N. Stein, C. Boulanger et L. JohannJ. Phys. IV France, 122 (2004) 87-92DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004122013
