Phénomènes de ségrégation dans les ferrites de titane nanométriques : apports complémentaires de différentes techniques expérimentales (DRX, XPS, EXAFS ...) N. Guigue-Millot, F. Bernard, J.C. Niepce, A. Traverse et P. PerriatJ. Phys. IV France, 12 6 (2002) 473-480DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20020255
