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Article cité :

Polarimetric difference interferometer made by ion exchange method*

K. Gut

J. Phys. IV France, 129 (2005) 109-112

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2005129023

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Citations de cet article :

The Application of Scattered Light in the Metrology of Planar Waveguides

K. Gut
Acta Physica Polonica A 122 (5) 818 (2012)
DOI: 10.12693/APhysPolA.122.818
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Comparison of the Sensitivity of a Polymer Waveguide in the Classical and Reverse Symmetry System

K. Gut and S. Drewniak
Acta Physica Polonica A 118 (6) 1133 (2010)
DOI: 10.12693/APhysPolA.118.1133
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The Influence of the Rotational Speed of the Polymer SU8 on the Thickness of the Waveguide Layer

K. Gut, T. Pustelny and D. Nabagło
Acta Physica Polonica A 118 (6) 1136 (2010)
DOI: 10.12693/APhysPolA.118.1136
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Sensitivity of Polarimetric Waveguide Interferometer for Different Wavelengths

K. Gut, A. Zakrzewski and T. Pustelny
Acta Physica Polonica A 118 (6) 1140 (2010)
DOI: 10.12693/APhysPolA.118.1140
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Measurements of the Attenuation by Means οf the Scattered Light of Planar Waveguide Structure, Basing on the Polymer SU8 on a Substrate οf Sodium-Calcium Glass

K. Gut and D. Nabaglo
Acta Physica Polonica A 116 (3) 307 (2009)
DOI: 10.12693/APhysPolA.116.307
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Bimodal Layers of the Polymer SU8 as Refractometer

Kazimierz Gut
Procedia Engineering 47 326 (2012)
DOI: 10.1016/j.proeng.2012.09.149
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