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Article cité :

Étude de la microstructure de couches minces par diffraction des rayons X : description analytique des profils de raie

A. Boulle, R. Guinebretière, A. Dauger

J. Phys. IV France, 118 (2004) 183-191

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118022

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Citations de cet article :

Recent advances in high-resolution X-ray diffractometry applied to nanostructured oxide thin films: The case of yttria stabilized zirconia epitaxially grown on sapphire

A. Boulle, R. Guinebretière, O. Masson, et al.
Applied Surface Science 253 (1) 95 (2006)
DOI: 10.1016/j.apsusc.2006.05.086
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Highly localized strain fields due to planar defects in epitaxial SrBi2Nb2O9 thin films

A. Boulle, R. Guinebretière and A. Dauger
Journal of Applied Physics 97 (7) 073503 (2005)
DOI: 10.1063/1.1870119
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