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Defect structure of pulsed laser deposited LiNbO3/Al2O3 layers determined by X-ray diffraction reciprocal space mapping

A. Boulle, L. Canale, R. Guinebretière, C. Girault-Di Bin and A. Dauger
Thin Solid Films 429 (1-2) 55 (2003)
DOI: 10.1016/S0040-6090(03)00030-0
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