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Citations de cet article :

Electrostrictive and Piezoelectric Behavior of PMN-PT Thin Films

M. Detalle, R. Herdier, G. S. Wang, et al.
Ferroelectrics 351 (1) 15 (2007)
DOI: 10.1080/00150190701351873
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Piezoelectric thin films for MEMS applications—A comparative study of PZT, 0.7PMN–0.3PT and 0.9PMN–0.1PT thin films grown on Si by r.f. magnetron sputtering

Romain Herdier, M. Detalle, David Jenkins, Caroline Soyer and Denis Remiens
Sensors and Actuators A: Physical 148 (1) 122 (2008)
DOI: 10.1016/j.sna.2008.07.021
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PMNT films for integrated capacitors

Eric Fribourg-Blanc, Eric Cattan, Denis Rèmiens and Emmanuel Defaÿ
Solid-State Electronics 47 (10) 1631 (2003)
DOI: 10.1016/S0038-1101(03)00173-4
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Low temperature perovskite crystallization of 70%PbMg1∕3Nb2∕3O3–30%PbTiO3 thin films deposited by sputtering and their electrical performance evaluation

M. Detalle, D. Rémiens, G. Wang, P. Roussel and B. Dkhil
Applied Physics Letters 91 (3) 032903 (2007)
DOI: 10.1063/1.2749859
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Growth of highly orientated 0.65Pb(Mg1/3Nb2/3)O3–0.35PbTiO3 films by pulsed laser deposition

X.L. Zhong, L. Lu and M.O. Lai
Surface and Coatings Technology 198 (1-3) 400 (2005)
DOI: 10.1016/j.surfcoat.2004.10.131
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NANOSCALE INVESTIGATIONS OF ELECTRICAL PROPERTIES IN RELAXOR Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3 THIN FILMS DEPOSITED ON PLATINUM AND LaNiO3 ELECTRODES BY MEANS OF LOCAL PIEZOELECTRIC RESPONSE

A. FERRI, A. DA COSTA, R. DESFEUX, et al.
Integrated Ferroelectrics 91 (1) 80 (2007)
DOI: 10.1080/10584580701320123
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Annealing Temperature Effects on PMN-PT Thin Film

M. Detalle, G. S. Wang, E. Fribourg-Blanc and D. Rémiens
Ferroelectrics 362 (1) 128 (2008)
DOI: 10.1080/00150190802007051
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Local Piezoelectric Hysteresis Loops for the Study of Electrical Properties of 0.7Pb(Mg1/3Nb2/ 3)O3-0.3PbTiO3 Thin Films: Bottom Electrode Dependence and Film Thickness Effect

A. Ferri, A. Da Costa, S. Saitzek, et al.
Ferroelectrics 362 (1) 21 (2008)
DOI: 10.1080/00150190801997427
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INTERFACIAL EFFECTS ON THE CRYSTALLIZATION TEMPERATURE OF PMN-PT FILMS DEPOSITED ON LNO OR Pt BOTTOM ELECTRODES

M. Detalle, T. T. Nguyen, G. S. Wang and D. Remiens
Integrated Ferroelectrics 98 (1) 171 (2008)
DOI: 10.1080/10584580802093520
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