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Citations de cet article :

Alignment of in situ AFM images using microstructured reference points

M. Plaschke, J. Römer and J.I. Kim
Ultramicroscopy 75 (2) 77 (1998)
DOI: 10.1016/S0304-3991(98)00053-9
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Alignment of AFM images using an iterative mathematical procedure

J. Römer, M. Plaschke and J.I. Kim
Ultramicroscopy 85 (2) 99 (2000)
DOI: 10.1016/S0304-3991(00)00044-9
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Improved understanding of environment-induced cracking (EIC) of sensitized 5XXX series aluminium alloys

N.J.H. Holroyd, T.L. Burnett, M. Seifi and J.J. Lewandowski
Materials Science and Engineering: A 682 613 (2017)
DOI: 10.1016/j.msea.2016.11.088
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