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Citations de cet article :

High resolution positron-annihilation spectroscopy with a new positron microprobe

H. Greif, M. Haaks, U. Holzwarth, et al.
Applied Physics Letters 71 (15) 2115 (1997)
DOI: 10.1063/1.120451
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A scanning positron microscope for defect analysis in materials science

W. Triftshäuser, G. Kögel, P. Sperr, et al.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 130 (1-4) 264 (1997)
DOI: 10.1016/S0168-583X(97)00174-2
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