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Article cité :

Current Stage of the Investigation of the Composition of Oxygen Precipitates in Czochralski Silicon Wafers

D. Kot, G. Kissinger, M. A. Schubert and A. Sattler
ECS Journal of Solid State Science and Technology 6 (4) N17 (2017)
https://doi.org/10.1149/2.0081704jss

Measurement of coherency states of metal—ceramic interfaces by HREM image processing

G. Möbus, E. Schumann, G. Dehm and M. Rühle
Physica Status Solidi (a) 150 (1) 77 (1995)
https://doi.org/10.1002/pssa.2211500108