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Article cité :

Characterization of SiO₂ films grown on Si substrates by monoenergetic positron beams

A. UEDONO, L. WEI, S. TANIGAWA, R. SUZUKI, H. OHGAKI, T. MIKADO

J. Phys. IV France, 03 C4 (1993) C4-177-C4-183

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1993424

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Citations de cet article :

On the nature of the intramicellar and intermicellar forces governing the liquid crystalline phase behavior of aqueous solutions of disklike micelles

N. Boden, R. Harding, W. M. Gelbart, et al.
The Journal of Chemical Physics 103 (13) 5712 (1995)
DOI: 10.1063/1.470553
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Preparation and microstructural characterization of TiC and Ti0.6W0.4∕TiC0.6 composite thin films obtained by activated reactive evaporation

J. A. Montes de Oca, Y. LePetitcorps, J.-P. Manaud and J. R. Vargas García
Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 26 (3) 416 (2008)
DOI: 10.1116/1.2899457
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Isothermal oxidation behavior of cryomilled NiCrAlY bond coat: Homogeneity and growth rate of TGO

Kaka Ma and Julie M. Schoenung
Surface and Coatings Technology 205 (21-22) 5178 (2011)
DOI: 10.1016/j.surfcoat.2011.05.025
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Novel intermediate phases in an ionic fluorocarbon surfactant/water system

S. Puntambekar, M. C. Holmes and M. S. Leaver
Liquid Crystals 27 (6) 743 (2000)
DOI: 10.1080/026782900202219
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