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Citations de cet article :

D.M. Hwang, L. DeChiaro, M.C. Wang, P.S.D. Lin, C.E. Zah, S. Ovadia, T.P. Lee, D. Darby, Y.A. Tkachenko and J.C.M. Hwang
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DOI: 10.1109/RELPHY.1994.307797
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Processes of the Reliability and Degradation Mechanism of High-Power Semiconductor Lasers

Yue Song, Zhiyong Lv, Jiaming Bai, Shen Niu, Zibo Wu, Li Qin, Yongyi Chen, Lei Liang, Yuxin Lei, Peng Jia, Xiaonan Shan and Lijun Wang
Crystals 12 (6) 765 (2022)
DOI: 10.3390/cryst12060765
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