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Article cité :

Potentialities and Limitations of the XEOL-XAFS Technique

A. Rogalev, J. Goulon

J. Phys. IV France, 7 C2 (1997) C2-565-C2-568

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4/1997097

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Citations de cet article :

Alteration of EXAFS spectrum structure of KBr crystals resulting from a change of registration method

V.I. Kochubey, T.A. Bashkatova and D.I. Kochubey
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 470 (1-2) 323 (2001)
https://doi.org/10.1016/S0168-9002(01)01065-8

Ultrafast extended x-ray absorption fine structure (EXAFS)—theoretical considerations

Frank L. H. Brown, Kent R. Wilson and Jianshu Cao
The Journal of Chemical Physics 111 (14) 6238 (1999)
https://doi.org/10.1063/1.479928