Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Study of the growth mechanism of CVD silicon films on silica by X-ray reflectivity, atomic force microscopy and scanning electron microscopy

A. van der Lee, J. Durand, D. Cot, L. Vázquez

J. Phys. IV France, 09 PR8 (1999) Pr8-157-Pr8-164

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1999819

PDF (834.8 KB)

Citations de cet article :

Grazing incidence specular reflectivity: theory, experiment, and applications

A van der Lee
Solid State Sciences 2 (2) 257 (2000)
https://doi.org/10.1016/S1293-2558(00)00119-9