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High-resolution X-ray diffractometry and X-ray reflectometry techniques for structural studies of complicated thin-layered heterostructures: Complementarity between Fourier Transform-based procedures and simulation softwares

O.Durand, A. De Rossi, A. Bouchier

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DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2004118024

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Citations de cet article :

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Fourier-inversion and wavelet-transform methods applied to X-ray reflectometry and HRXRD profiles from complex thin-layered heterostructures

O. Durand and N. Morizet
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Density, thickness and composition measurements of TiO2SiO2 thin films by coupling X-ray reflectometry, ellipsometry and electron probe microanalysis-X

A. Hodroj, H. Roussel, A. Crisci, et al.
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Analysis of variable scale surface roughness on Si(111): a comparative Brewster angle, ellipsometry and atomic force microscopy investigation

M. Lublow and H. J. Lewerenz
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