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Article cité :

Statistique des photons d'un laser à 4 niveaux soumis à un pompage optique

L. Chusseau, J. Arnaud, F. Philippe

J. Phys. IV France, 12 5 (2002) 337-338

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:20020184

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Citations de cet article :

Temperature characterization of deep and shallow defect centers of low noise silicon JFETs

Claudio Arnaboldi, Andrea Fascilla, Mark W. Lund and Gianluigi Pessina
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 517 (1-3) 313 (2004)
https://doi.org/10.1016/j.nima.2003.09.034

Self-trapping of electrons at the field-effect junction of a molecular crystal

N. Kirova and M.-N. Bussac
Physical Review B 68 (23) 235312 (2003)
https://doi.org/10.1103/PhysRevB.68.235312