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Article cité :

Spatial coherence measurement of a high average power table-top soft X-ray laser

Yanwei Liu, M. Seminario, F.G. Tomasel, C. Chang, J.J. Rocca, D.T. Attwood

J. Phys. IV France, 11 PR2 (2001) Pr2-123-Pr2-126

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2001224

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Citations de cet article :

Extreme Ultraviolet Nano-holography Scheme to Study the Dynamic of ILMs in Mechanical Nano-oscillators

Erik B. Malm, N. Monserud, C.G. Brown, P.W. Wachulak, V. Putkaradze, G. Balakrishnan and M.C. Marconi
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Imaging and Patterning on Nanometer Scale Using Coherent EUV Light

P.W. Wachulak, M.C. Marconi, C.S. Menoni, et al.
Acta Physica Polonica A 117 (2) 403 (2010)
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Wavefront measurements in the soft X-ray range

S. Le Pape, Ph. Zeitoun, M. Idir, et al.
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https://doi.org/10.1051/epjap:2002092