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Article cité :

Glass transition of ultrathin films probed by X-ray reflectivity

E. Cecchetto, N.R. de Souza, B. Jérôme

J. Phys. IV France, 10 PR7 (2000) Pr7-247-Pr7-250

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2000749

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Citations de cet article :

Investigations of the adsorbed layer of polysulfone: Influence of the thickness of the adsorbed layer on the glass transition of thin films

Hassan Omar, Shayan Ahamadi, Deniz Hülagü, Gundula Hidde, Andreas Hertwig, Paulina Szymoniak and Andreas Schönhals
The Journal of Chemical Physics 161 (5) (2024)
https://doi.org/10.1063/5.0223415

Electrochemical Determination of the Glass Transition Temperature of Thin Polyelectrolyte Brushes at Solid–Liquid Interfaces by Impedance Spectroscopy

Teodoro Alonso-García, María José Rodríguez-Presa, Claudio Gervasi, Sergio Moya and Omar Azzaroni
Analytical Chemistry 85 (14) 6561 (2013)
https://doi.org/10.1021/ac4007655

Effects of confinement on material behaviour at the nanometre size scale

Mataz Alcoutlabi and Gregory B McKenna
Journal of Physics: Condensed Matter 17 (15) R461 (2005)
https://doi.org/10.1088/0953-8984/17/15/R01

Reorientation dynamics in thin glassy films

E Cecchetto, D Moroni and B Jérôme
Journal of Physics: Condensed Matter 17 (19) 2825 (2005)
https://doi.org/10.1088/0953-8984/17/19/002