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Article cité :

High-angle annular dark-field STEM of partially ordered Ni-19.5at%Mo alloys

N. Tanaka, N. Suzuki, M. Kawasaki, S. Hata, N. Kuwano, K. Oki

J. Phys. IV France, 10 PR6 (2000) Pr6-85-Pr6-90

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:2000615

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Citations de cet article :

First Observation of InxGa1−xAs Quantum Dots in GaP by Spherical-Aberration-Corrected HRTEM in Comparison with ADF-STEM and Conventional HRTEM

Nobuo Tanaka, Jun Yamasaki, Shingo Fuchi and Yoshikazu Takeda
Microscopy and Microanalysis 10 (01) 139 (2004)
https://doi.org/10.1017/S1431927604040231

Time-resolved high-resolution transmission electron microscopy and high-angle annular dark field scanning transmission electron microscopy of metal-mediated crystallization of amorphous germanium films

Nobuo Tanaka and Michiharu Kawahara
Materials Science and Engineering: A 312 (1-2) 25 (2001)
https://doi.org/10.1016/S0921-5093(00)01900-6