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Article cité :

An Analysis of Zn and Se K Edge XANES Spectra for ZnMeSe (Me = Ni, Cr, V and Ti)

A. Kisiel, E. Czarnecka-Such, P.M. Lee, E. Burattini, W. Giriat

J. Phys. IV France, 7 C2 (1997) C2-1199-C2-1200

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:19972192

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Citations de cet article :

Modulation of structural, optical, and dielectric properties of GeTe1-Se amorphous films with the Se content x (0 ≤ x ≤ 1)

P. Armand, R. Escalier, M. Ramonda, M. Bigot, R. Arinero and A. Piarristeguy
Materials Today Communications 112699 (2025)
https://doi.org/10.1016/j.mtcomm.2025.112699