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Article cité :

Influence of the probe beam size on the photothermal reflectance signal

T. Velinov, G. Burov, K. Bransalov, J.-P. Roger, A. Mansanares

J. Phys. IV France, 04 C7 (1994) C7-19-C7-22

DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1994705

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Citations de cet article :

Self-eliminating instrumental frequency response from free carrier absorption signals for silicon wafer characterization

Qiuping Huang and Bincheng Li
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https://doi.org/10.1063/1.3577043

Reconstruction theory of thermal conductivity depth profiles by the modulated photoreflectance technique

M. H. Xu, J. C. Cheng and S. Y. Zhang
Journal of Applied Physics 84 (2) 675 (1998)
https://doi.org/10.1063/1.368122