Étude comparative des techniques d'analyse par fluorescence X à dispersion d'énergie (ED-XRF) et à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF), et par spectrométrie d'émission atomique à source plasma couplée par induction (ICP-AES)
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J. Phys. IV France, 118 (2004) 447-455
DOI: 10.1051/jp4:2004118052