Étude d'un empilement multicouche périodique Mo/Si par spectroscopie d'émission X et par réflectométrie X P. Jonnard, J.-M. André, J. Gautier, M. Roulliay, F. Bridou, F. Delmotte and M.-F. Ravet J. Phys. IV France, 118 (2004) 231-236 DOI: 10.1051/jp4:2004118027