Analyse par EXAFS d'agrégats de platine de taille nanométrique soumis à différents gaz réactifs S. Schneider, D. Bazin, G. Meunier, F. Garin and G. Maire J. Phys. IV France, 10 PR10 (2000) Pr10-299-Pr10-309 DOI: 10.1051/jp4:20001033