Étude comparative des paramètres fractals des surfaces par réflectométrie des rayons X et microscopie à force atomique A. Knoll, J.C. Arnault, E. Smigiel, N. Broll and A. Cornet J. Phys. IV France, 10 PR10 (2000) Pr10-229-Pr10-235 DOI: 10.1051/jp4:20001025