Morphology of InGaAs/InP QWs : from excitonic spectroscopy to HR-TEM analyses J. CAMASSEL, S. JUILLAGUET, R. SCHWEDLER, K. WOLTER, F.H. BAUMANN, K. LEO and J.P. LAURENTI Le Journal de Physique IV, 03 C5 (1993) C5-99-C5-106 DOI: 10.1051/jp4:1993518