Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de Cd1-xZnxTe déposées sur GaAs(001) par ablation laser J. L. Deiss, J. L. Loison, D. Ohlmann, M. Robino, C. Ulhaq-Bouillet and G. VersiniJ. Phys. IV France, 08 PR5 (1998) Pr5-257-Pr5-262DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1998532
