Réflectomètre à large spectre EUV pour la métrologie d'optiques Ch. Hecquet, M. Roulliay, F. Delmotte, M.F. Ravet-Krill, A. Hardouin et M. Idir J. Phys. IV France, 138 (2006) 259-264 Publié en ligne : 6 janvier 2007 DOI: 10.1051/jp4:2006138030