Journal de Physique IV

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Microscopie interférentielle X-UV : un outil pour l'étude des endommagements des surfaces optiques

G. Jamelot, D. Ros, K. Cassou, S. Kazamias, A. Klisnick, M. Kozlová, T. Mocek, P. Homer, J. Polan et M. Stupka

J. Phys. IV France, 138 (2006) 245-250

Publié en ligne : 6 janvier 2007

DOI: 10.1051/jp4:2006138028

G. Jamelot

D. Ros

K. Cassou

S. Kazamias

A. Klisnick

M. Kozlová

T. Mocek

P. Homer

J. Polan

M. Stupka

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