Interrogation d'un ion unique pour la métrologie optique G. Hagel, C. Champenois, C. Lisowski, D. Guyomarc'h, M. Houssin, M. Vedel, M. Knoop et F. Vedel J. Phys. IV France, 135 (2006) 163-164 Publié en ligne : 23 novembre 2006 DOI: 10.1051/jp4:2006135041