Characterisation of metal-organic semiconductor interfaces: In and Sn on CuPc V.Yu. Aristov, O.V. Molodtsova, V.M. Zhilin, D.V. Vyalikh et M. Knupfer J. Phys. IV France, 132 (2006) 101-104 Publié en ligne : 11 mars 2006 DOI: 10.1051/jp4:2006132020