Journal de Physique IV

Evaluation of active semiconductor structures by combined scanning thermo-elastic microscopy and finite element simulations

J.L. Nzodoum Fotsing, D. Dietzel, S. Chotikaprakhan, R. Meckenstock, J. Pelzl et S. Cassette

J. Phys. IV France, 125 (2005) 117-120

DOI: 10.1051/jp4:2005125027

J.L. Nzodoum Fotsing

D. Dietzel

S. Chotikaprakhan

R. Meckenstock

J. Pelzl

S. Cassette

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