Journal de Physique IV

Étude structurale de nanomatériaux par diffraction X : utilisation d'un montage avec optique multicouche à collimation 2D

L. Ortega, C. Bouchard, R. Bruyère et P. Bordet

J. Phys. IV France, 118 (2004) 71-75

DOI: 10.1051/jp4:2004118008

L. Ortega

C. Bouchard

R. Bruyère

P. Bordet

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