Journal de Physique IV

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Nano-tomography based on hard X-ray microscopy with refractive lenses

C.G. Schroer, J. Meyer, M. Kuhlmann, B. Benner, T.F. Günzler, B. Lengeler, C. Rau, T. Weitkamp, A. Snigirev et I. Snigireva

J. Phys. IV France, 104 (2003) 271

DOI: 10.1051/jp4:200300078

C.G. Schroer

J. Meyer

M. Kuhlmann

B. Benner

T.F. Günzler

B. Lengeler

C. Rau

T. Weitkamp

A. Snigirev

I. Snigireva

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