Journal de Physique IV

An automatic method of measuring the cristallographic orientations of Fe-Si alloys using electron scan microscope image processing and etch pitting

J.-P. Goglio, A. Chehikian, T. Waeckerlé et B. Cornut

J. Phys. IV France, 08 PR2 (1998) Pr2-677-Pr2-680

DOI: 10.1051/jp4:19982157

J.-P. Goglio

A. Chehikian

T. Waeckerlé

B. Cornut

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