Journal de Physique IV

Micronic thermal characterization of vertical interfaces using the photoreflectance method

F. Lepoutre, Ph. Forge, J.L. Joulaud, L. Paradis et D. Rochais

J. Phys. IV France, 04 C7 (1994) C7-571-C7-574

DOI: 10.1051/jp4:19947134

F. Lepoutre

Ph. Forge

J.L. Joulaud

L. Paradis

D. Rochais

articles ayant parmi leurs auteurs TOUS les auteurs sélectionnés (ET)

articles ayant parmi leurs auteurs AU MOINS un auteur identique à ceux sélectionnés (OU)